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薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀
型號(hào):FETS-2000b

FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測(cè)試儀具有動(dòng)態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測(cè)...

高溫鐵電測(cè)試儀
型號(hào):FETS-2000

研禾科技FETS-2000高溫鐵電測(cè)試儀可用于高溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集,可進(jìn)行電滯回線測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)試、小信號(hào)電容測(cè)試、PUND測(cè)試、印痕測(cè)...

電容充放電測(cè)試儀
型號(hào):CCDM-1000

CCDM-1000電容充放電測(cè)試儀用于研究電容的高電壓充放電性能,集控制器、高壓電源、信號(hào)采集器于一體,具有過(guò)阻尼、欠阻尼、疲勞等測(cè)試功能,配有高壓擊穿保護(hù)模塊。系統(tǒng)自動(dòng)采集充放電過(guò)程樣品兩端電壓變化...

變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)
型號(hào):FETS-2000

FETS-2000變溫鐵電測(cè)試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測(cè)試中測(cè)試信號(hào)的輸出和反饋信號(hào)的收集,可進(jìn)行電滯回線測(cè)試、漏電流測(cè)試、疲勞測(cè)試、電擊穿強(qiáng)度測(cè)試、小信號(hào)電容測(cè)試、PUND測(cè)試、印痕測(cè)試、...

變溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試
型號(hào):ECTS-2000

ECTS-2000變溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試采用直接法進(jìn)行測(cè)量,直接測(cè)量高低溫變溫環(huán)境下材料電卡效應(yīng)的等溫熵變,具有集成度高、測(cè)量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特點(diǎn),具有高壓擊穿保護(hù)功能。配置專用的電...

中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)
型號(hào):PCTS-3000

PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù),適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。

高低溫介電溫譜測(cè)試儀
型號(hào):DPTS-3000

DPTS-3000高低溫介電溫譜測(cè)試儀(單通道、多通道)兼容安捷倫、是德、穩(wěn)科、益和、同惠等品牌的阻抗分析儀或LCR表,同時(shí)具有單通道和4通道測(cè)量模式,單通道模式適用于追求超高精度測(cè)量結(jié)果的場(chǎng)合,4通...

高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)
型號(hào):DPTS-RT-600

DPTS-RT-600高溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)適用于電介質(zhì)材料介電溫譜、介電頻譜掃描的測(cè)試。系統(tǒng)軟件將高溫測(cè)試箱、高溫測(cè)試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設(shè)備無(wú)縫連接,測(cè)量在不同溫度、不同測(cè)試頻率下電容(...

PRODUCT CENTER

產(chǎn)品中心

功能材料電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
鐵電測(cè)試系統(tǒng)
熱釋電測(cè)試系統(tǒng)
介電測(cè)試系統(tǒng)
偏壓介電測(cè)試系統(tǒng)
電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)
電容充放電測(cè)試系統(tǒng)
壓電測(cè)試系統(tǒng)
極化裝置
高低溫試驗(yàn)箱
  • 高低溫準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)高溫d33測(cè)試系統(tǒng)
    高低溫準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)高溫d33測(cè)試系統(tǒng)

    型號(hào):PDTS-3000

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  • 變溫極化裝置、超低溫試驗(yàn)箱
    變溫極化裝置、超低溫試驗(yàn)箱

    型號(hào):VTPD-3000

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  • 高溫d33測(cè)試系統(tǒng)
    高溫d33測(cè)試系統(tǒng)

    型號(hào):PDTS-600

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  • 高溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試
    高溫電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試

    型號(hào):ECTS-2000

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  • 電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)  電卡測(cè)試
    電卡效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 電卡測(cè)試

    型號(hào):ECTS-2000

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  • 高低溫介電阻抗譜測(cè)試系統(tǒng)
    高低溫介電阻抗譜測(cè)試系統(tǒng)

    型號(hào):DPTS-2000

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  • 單通道高溫阻抗譜測(cè)試系統(tǒng)
    單通道高溫阻抗譜測(cè)試系統(tǒng)

    型號(hào):DPTS-RT-600S

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  • 高低溫阻抗譜測(cè)試系統(tǒng)
    高低溫阻抗譜測(cè)試系統(tǒng)

    型號(hào):DPTS-3000

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關(guān)于我們

武漢研禾科技有限公司成立于2017年,是一家從事功能材料電性測(cè)試設(shè)備研發(fā)的高科技公司,經(jīng)過(guò)多年產(chǎn)品研發(fā)和技術(shù)積累,已經(jīng)擁有涵蓋鐵電、電卡效應(yīng)、電容充放電、熱釋電、壓電、介電等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備,可以滿足功能材料電學(xué)性能測(cè)試的全套需求。核心技術(shù)團(tuán)隊(duì)由多位資深高級(jí)工程師、功能材料學(xué)博士組成,在材料表征、設(shè)備研制、軟件開(kāi)發(fā)等方面具有深厚的理論功底和豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。我司堅(jiān)持自主研發(fā),緊跟功能材料測(cè)試需求,研發(fā)出的鐵電測(cè)試系統(tǒng)、電卡效應(yīng)測(cè)試儀、電容充放電測(cè)試儀、熱釋電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試系統(tǒng)等設(shè)備...
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TECHNICAL ARTICLES

技術(shù)文章

  • 發(fā)布時(shí)間

    20258-29

    鐵電測(cè)試儀是用于表征鐵電材料核心電性能的設(shè)備

    鐵電測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、電子工程、新能源等領(lǐng)域,核心作用是驗(yàn)證鐵電材料是否具備“自發(fā)極化可被外電場(chǎng)反轉(zhuǎn)”的關(guān)鍵特性,為鐵電存儲(chǔ)器、壓電傳感器、熱釋電探測(cè)器等器件的研發(fā)與生產(chǎn)提供數(shù)據(jù)支撐。鐵電測(cè)試儀的核心是通過(guò)施加可控電場(chǎng),測(cè)量材料的極化強(qiáng)度、電流等響應(yīng)信號(hào),從而分析其鐵電性能。核心功能?電滯回線測(cè)試?:通過(guò)施加不同波形電壓信號(hào),采集材料電荷或形變信號(hào),分析材料的極化特性。??漏電流測(cè)量?:評(píng)估材料在電場(chǎng)下的電流泄漏情況,反映材料穩(wěn)定性。??剩余極化率測(cè)試?:測(cè)量材料斷電...

  • 發(fā)布時(shí)間

    20258-25

    從基本開(kāi)始認(rèn)識(shí)偏壓介電測(cè)試

    許多電子器件在實(shí)際工作時(shí)都處于一定的偏置電場(chǎng)環(huán)境中。偏壓介電測(cè)試能夠在實(shí)驗(yàn)室條件下準(zhǔn)確地模擬這種實(shí)際工況,使得測(cè)試結(jié)果更貼近材料或器件在真實(shí)電路中的性能表現(xiàn)。例如,在集成電路中的電容元件,其工作時(shí)往往受到直流偏置的影響,通過(guò)該測(cè)試可以準(zhǔn)確預(yù)測(cè)其在實(shí)際電路中的介電行為,為電路的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供可靠依據(jù)。材料在偏置電場(chǎng)下往往呈現(xiàn)出非線性的介電特性。可以細(xì)致地研究這種非線性關(guān)系,有助于深入理解材料的微觀物理機(jī)制。比如對(duì)于某些新型的介電材料,通過(guò)分析其在不同偏壓下的電容變化曲線,可以推...

  • 發(fā)布時(shí)間

    20257-30

    高溫?zé)後岆姕y(cè)試系統(tǒng)主要用于測(cè)量熱釋電材料的熱釋電系數(shù)

    高溫?zé)後岆姕y(cè)試系統(tǒng)是一種用于測(cè)量熱釋電材料在高溫環(huán)境下熱釋電系數(shù)的精密儀器,通過(guò)分析材料在溫度變化時(shí)產(chǎn)生的表面電荷變化來(lái)評(píng)估其熱釋電性能。熱釋電效應(yīng)是指材料在溫度變化時(shí),其自發(fā)極化強(qiáng)度發(fā)生變化,從而在與極化方向垂直的晶體表面產(chǎn)生感應(yīng)電荷的現(xiàn)象。高溫?zé)後岆姕y(cè)試系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放的熱釋電電流,結(jié)合溫度變化率,計(jì)算得到材料的本征熱釋電系數(shù)。功能:?測(cè)量熱釋電系數(shù)?:在均勻升溫過(guò)程中,通過(guò)檢測(cè)材料釋放的電流計(jì)算本征熱釋電系數(shù),適用于薄膜、厚膜、單晶、陶瓷等不同...

  • 發(fā)布時(shí)間

    20257-22

    為什么要進(jìn)行高溫介電溫譜測(cè)試?

    高溫介電溫譜測(cè)試憑借其深入洞察材料高溫特性、準(zhǔn)確評(píng)估性能以及非破壞性等諸多優(yōu)點(diǎn),在材料科學(xué)研究、電子工業(yè)、能源領(lǐng)域等眾多方面都發(fā)揮著不可少的重要作用,助力科研人員與工程師們更好地把握材料在高溫環(huán)境下的行為奧秘,進(jìn)而推動(dòng)相關(guān)技術(shù)的創(chuàng)新與發(fā)展。它能夠測(cè)定材料在不同溫度下的介電性能,進(jìn)而對(duì)材料的結(jié)構(gòu)與性質(zhì)進(jìn)行研究。以下是其測(cè)定步驟及使用注意事項(xiàng):-選擇合適的測(cè)試設(shè)備和夾具,如高溫恒溫器、介電測(cè)試夾具、LCR阻抗分析儀等。-對(duì)樣品進(jìn)行預(yù)處理,如清洗、干燥等,確保樣品表面干凈無(wú)雜質(zhì)。-...

  • 發(fā)布時(shí)間

    20257-16

    高溫介電溫譜測(cè)試中的注意事項(xiàng)

    高溫介電溫譜測(cè)試是一種用于研究材料在高溫環(huán)境下介電性能隨溫度變化特性的重要手段。其工作原理基于電磁學(xué)和電介質(zhì)物理的基本理論。當(dāng)對(duì)被測(cè)材料施加一定頻率的交變電場(chǎng)時(shí),材料內(nèi)部的極化現(xiàn)象會(huì)發(fā)生。在電場(chǎng)作用下,材料中的電荷會(huì)發(fā)生位移,形成電偶極矩或空間電荷極化等。這些極化過(guò)程會(huì)使得材料表現(xiàn)出電容和損耗的特性。在高溫介電溫譜測(cè)試中,通過(guò)改變溫度并同時(shí)測(cè)量材料在不同溫度下的電容和損耗角正切等介電參數(shù),來(lái)獲取材料的介電溫譜。具體來(lái)說(shuō),測(cè)試系統(tǒng)會(huì)產(chǎn)生一個(gè)交變電場(chǎng),通常由信號(hào)發(fā)生器提供特定頻率...

  • 發(fā)布時(shí)間

    20257-3

    高溫d33測(cè)試是用于評(píng)估壓電材料在高溫環(huán)境下壓電性能的測(cè)試方法

    高溫d33測(cè)試是用于評(píng)估壓電材料(如壓電陶瓷、高分子材料)在高溫環(huán)境下壓電性能的測(cè)試方法,主要測(cè)量其壓電常數(shù)d33隨溫度變化的特點(diǎn)。通過(guò)動(dòng)態(tài)法或靜態(tài)法測(cè)量壓電材料在高溫環(huán)境中的壓電性能,可獲取材料在不同溫度下的d33參數(shù)變化曲線(即壓電溫譜圖),從而分析其高溫穩(wěn)定性、介電性能等關(guān)鍵指標(biāo)。d33是壓電材料的重要性能參數(shù),表示材料在極化方向(Z軸)受到外力作用時(shí),電極面上產(chǎn)生的電荷密度與應(yīng)力的比值。高溫d33測(cè)試旨在分析d33隨溫度變化的規(guī)律,即壓電溫譜圖,為材料的高溫應(yīng)用提供數(shù)...

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